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SZT-H型免费pg电子试玩
產品詳細
一 、功能與結構特征概述
基本功能:
SZT-H
型免费pg电子试玩
配以四探針儀器構成成套測試系統,是運用四端子測量原理的專業測量金屬箔類(質量)電阻率/方阻的多用途綜合測量裝置。(以下簡稱測試臺)
基本組成:
測試臺測試電極組、升降臺、支架、連接線纜等部件組成。
配套與兼容
:本測試臺兼容本公司所有臺式四探針測試儀器。本測試臺可兼容國內同行絕大多數四探針電阻率/方阻測試儀器。
優勢特征
:SZT-H質量電阻率測試臺符合國標《GB/T 5230-1995》中對金屬箔類質量電阻率測試要求,測試電極采用銅質刀架制成,故定位準確、游移率小、接觸良好;測試結果由數字表頭直接顯示。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、測量簡便等特點。
儀器適用于金屬薄膜材料廠、半導體薄膜材料廠、橡塑材料廠、電容器廠、科研單位、高等院校等對半導體或金屬薄膜材料的方阻、電阻率性能的測試。特別適用于要求快速測量中低方阻及要求結果分選的場合。
二、技術參數(配ST2258A型多功能數字式四探針測試儀)
2.1
測量范圍、分辨率(有所配儀器決定)
(1)方阻測試范圍*
(以配SZT-H測試臺為例)
測量膜寬:1mm≤B≤50mm
基本方阻測量值:1.0×10-6
~1.2×103
Ω/□,分辨率:1.0×10-7
~1.0×100
Ω/□。
具體膜寬w與測量范圍關系見圖2-1A。
(2)電阻率測試范圍(以配SZT-H測試臺為例)
(厚度d<10mm,寬w<50mm)
基本電阻率測量值: 1.0×10-6
~ 1.2×103
Ω*cm,分辨率:1.0×10-7
~ 1.0×100
Ω*cm。
具體截面s與測量范圍關系見圖2-1B。
2.2 SZT-H測試刀架:
⑴電壓刀片間距:150mm±0.2% ,刀刃長60mm
⑵電流刀片間距: 300mm,刀刃長60mm
⑶測試臺架外型尺寸:360×200×240(長×寬×高)
三、詳情請登陸蘇州亚愽app下载有限公司官方網站
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查看《SZT-H金屬質量電阻率測試臺技術使用說明書》
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